FE-2100M 硅钢材料自动测量装置适用标准 |
● GB/T3655-2008《用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法》
● JJG405-1986《硅钢片(带)标准样品》
● GB/T13789-2008《用单片测试仪测量电工钢(带)磁性能的方法》
● IEC 60404-2《用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法》
● IEC 60404-3《用单片测试仪测量电工钢片(带)磁性能的方法》
● IEC 60404-6《磁性材料——第6部分:软磁金属材料和粉末冶金材料20Hz至200kHz频率范围磁性能的环形试样测量方法》
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FE-2100M硅钢材料自动测量装置硬件特点 |
● 采用32位ARM嵌入式高速处理器,具有强大的数据处理能力;
● 同步采样技术,确保了采样的准确性和重复性;
● 可独立进行单点或多点测试(无需电脑),并采用320×240大屏幕液晶显示,可显示各种波形、曲线及测量结果,适合工厂企业现场测试的需要;
● 单点平均测试时间约3秒,40-1000Hz可直接采用在面板上操作测试完成;
● 能进行*大基波幅度10%谐波*大次数64的谐波测试和分析功能。
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FE-2100M 硅钢材料自动测量装置软件特点 | |||||||||||||||||||||||||||||
● 可直接单机在线测量,液晶屏显示所有参数和曲线;
● 与微机连接可进行自动控制,并对测试数据进行保存;
● 对重要参数提供分选功能(Br、Bm、Hc、Hm、Ps、ua);
● 准确测量:频率f 、初级电流峰值、次级电压峰值、有功功率和视在功率;
● 准确测量:磁感强度Bm、励磁磁场强度Hm、幅值磁导率ua 、损耗角δ和比总损耗Ps;
● 准确换算:弹性磁导率u’、粘性磁导率u”、电感磁导率uL、电阻磁导率uR、Q值和电感常数AL;
● 提供测试波形I-V-B、B-H磁滞回线(簇)、交流u&B-H磁导率曲线和磁化曲线和Ps-B比总损耗曲线报告。
● 有锁定B、锁定H和锁定频率f 测试功能;
● 有叠加谐波测试分析功能,包含选择谐波次数;
● 谐波幅度等人为干预进行叠加,并进行谐波损耗的准确测量;
● 测试后自动完成数据计算,有自动校正量程系数功能。
● 文件系统采用数据库格式,可直接打印或输出测试结果到 Excel表格中。
● 文件管理功能强大,包含自动保存数据,删除数据,**全部数据等功能。
● 数据文件中包含完整的采样数据、样品参数和仪器参数,可输入其它软件。
FE-2100M硅钢材料自动测量装置主要技术参数
测量原理
软件界面
1、重复性实验
1-1、方圈样片重复性实验测试I/U/B波形
重复性分析:频率发 f锁定无偏差,Bm锁定(锁定值为1.500T)偏差:-0.2%
1-2、方圈样片重复性实验测试BH波形(单一波形)
1-3、八次测试波形叠加(高可靠的重复性保证BH曲线几乎完全重合)
2、自动连续测试0. 1T~1.8T,获得磁化曲线和损耗曲线,并开通测试合格判断功能。
2-1、单条方圈样片实验测试I/U/B波形(单点锁定时间不超过5秒,高于技术要求中30秒锁定一个点的要求,得益于软件的快速逼近设计方法,避免了硅钢长期测试的发热,同时测试技术连续对硅钢测量过程中,添加退磁环节,确保测试的重复性和在线性)
2-2、单一磁滞回线(点击单一数据,点击磁滞回线)
2-3、测试0.1T~1.5T方圈样片的BH曲线簇图(点击组簇,同牌号和频率判断曲线直接组簇,操作异常方便)。
2-4、方圈样片50Hz条件下的BH磁化曲线和磁导率曲线(在组簇的情况下,点击磁化曲线,直接生成磁导率曲线和磁化曲线,测试点越多,曲线越平滑,*多可设定256点)
2-5、方圈样片50Hz条件下的损耗曲线(在组簇的情况下点击损耗曲线,直接生成损耗曲线,为设计变压器和电机工作点提供依据)
2-6、其他功能介绍
2-6-1、在线分选(可设定主要参数的分选功能,合格亮绿灯通过,不合格亮红灯,没选择或没填数据不变色),方便用户直接进行分选。
2-6-2、可衍生其他交流磁特性参数,方便技术工程人员,具体有u’、u”、uL、uR、AL、Q 、tgδ。
2-6-3、国际制单位和Gs值单位任意换算
华鸣仪器通过与宝钢、武钢、上海大学成立“高品质电机电工钢联合实验室” ,以及美国通用传递的铁芯进行测试,FE-2100M与其进行性能比较并不逊色,偏差较小,基本上达到了国内外同行先进水平。
1.铁芯饱和测试实验(Brockhaus测试数据由武钢技术中心提供,测试样品环由美国通用公司提供)
1-1、测试样品B35AHV1700 几何参数:有效磁路长度Le:267.6mm,有效截面积Ae:63.595mm,有效体积:18.290cm3,有效质量质量Me:136g。
1-2、测试数据比对:整体偏差优于:2.5%。
2.锁定Bm测试与锁定Hm测试比较:两种不同锁定方式下,磁化曲线、比总损耗曲线。取一组接近饱和条件下测试的数据很能说明新款FE-2100M的测试能力,完全突破了以往设备测试Bm条件下不考虑Pc测试的准确度的瓶颈,这里面涉及公司核心技术,不便公开。仅将测试结果进行公开。
圆环样品BHV1700,分别锁定Bm(0.1~1.6T)与锁定Hm(30~11kA/m)测试损耗进行比较。
2-1、锁定Hm=11kA/m测试(为保证真实性,界面直接抓取):
2-2、锁定Bm=1.6T测试(为保证真实性,界面直接抓取):
2-3、两种不同锁定方式进行Bm-Pc曲线比较(损耗曲线基本上重合)
2-4、两种不同锁定方式进行Bm-Hm曲线比较(磁化曲线基本上重合)
2-5、叠加谐波测试界面直接抓取(新版),用户配置谐波电源,可进行谐波条件下材料损耗的测量,便于以后标准的升级。
2-6、谐波条件下测试波形分析
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